Timing Performance of Nanometer Digital Circuits Under Process Variations

de

,

Éditeur :

Springer

Collection : Frontiers in Electronic Testing

Paru le : 2018-04-18

This book discusses the digital design of integrated circuits under process variations, with a focus on design-time solutions. The authors describe a step-by-step methodology, going from logic gates to logic paths to the circuit level. Topics are presented in comprehensively, without overwhelming us...
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À propos


Éditeur


Parution
2018-04-18

Pages
185 pages

EAN papier
9783319754642


Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9783319754659
Prix
116,04 €
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
18
Taille du fichier
13793 Ko
EAN EPUB
9783319754659
Prix
116,04 €
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
18
Taille du fichier
4690 Ko

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